第1章 光学设计和杂散光 1.1 设计过程 1.2 设计参数 1.3 杂散光设计分析 1.4 辐射传输的基本方程 1.4.1 杂散辐射路径 1.4.2 从探测器开始 1.4.3 反向光线追踪 1.4.4 视场光阑和Lyot光阑 1.5 结论 参考文献 第2章 光学材料及其特性 2.1 光与光学物质的相互作用 2.1.1 介电函数 2.1.2 线性折射 2.1.3 吸收 2.1.4 光学各向异性 2.1.5 非线性光学特性和光极化 2.1.6 发射 2.1.7 体积散射 2.1.8 表面散射 2.1.9 其他效应 2.2 光学玻璃 2.2.1 时序性发展 2.2.2 现代光学玻璃的成分 2.2.3 环保玻璃 2.2.4 如何选择合适的光学玻璃 2.3 有色玻璃 2.3.1 基本原理 2.3.2 玻璃的颜色 2.4 激光玻璃 2.4.1 普通激光玻璃及其特性 2.4.2 激光损伤 2.4.3 激光玻璃的储存和运输 2.5 用于光学应用的玻璃陶瓷 2.5.1 概述 2.5.2 玻璃陶瓷的特性 2.5.3 应用 2.6 非线性材料 2.6.1 关于非线性光学材料的概述 2.6.2 应用:全光开关 2.6.3 玻��中的二次谐波生成 2.6.4 用于研究非线性效应的玻璃系统 2.6.5 掺杂玻璃中的NL效应 2.7 塑料光学元件 2.7.1 模塑材料 2.7.2 制造工艺 2.7.3 制造过程 2.7.4 部件公差 2.7.5 光学系统装配 2.8 晶体光学材料 2.8.1 卤化物CaF2 2.8.2 半导体 2.8.3 蓝宝石 2.8.4 立方晶体中的光学各向异性 2.9 透明陶瓷 2.9.1 定义和□□ 2.9.2 光学陶瓷的应用 2.9.3 总结 2.10 特殊光学材料 2.10.1 可□焦液晶电子透镜 2.10.2 有机发光二极管(OLED) 2.10.3 光折□晶体 2.10.4 金属镜 2.11 常用的数据 参考文献 第3章 先进光学元件 3.1 折射微光学 3.1.1 自然界中的折射微光学 3.1.2 折射微光学器件的制造 3.1.3 折射微光学的应用 3.2 衍射光学元件 3.3 计算机生成的全息图 3.3.1 散射器设计 3.3.2 光束分离器设计 3.3.3 混合设计 3.4 亚波长结构元件 3.4.1 波片 3.4.2 抗反射光栅 3.4.3 偏振敏感元件 3.4.4 亚波长闪耀光栅和透镜 3.5 电光调制器 3.5.1 相位调制 3.5.2 偏振调制 3.5.3 强度调制 3.6 声光调制器 3.6.1 强度调制器 3.6.2 移频器 3.6.3 偏转器 3.7 梯度折射率光学元件 3.7.1 梯度折射率介质中的光线追迹 3.7.2 制造技术 3.7.3 应用 3.8 可□光学元件 3.8.1 可□透镜 3.8.2 新型可□光学元件 3.8.3 可□光学元件展望 3.9 周期极化非线性光学元件 3.9.1 基本原理 3.9.2 周期性极化结构的制作 3.9.3 铁电畴结构的可视化 3.9.4 应用 3.10 光子晶体 3.10.1 光子能带结构 3.10.2 独特特性 3.10.3 表征技术 3.10.4 光物质相互作用的增强和** 3.10.5 设备应用 参考文献 第4章 薄膜光学 4.1 光学镀膜理论 4.2 光学镀膜的制造 4.2.1 热蒸发 4.2.2 离子电镀和离子辅助沉积 4.2.3 溅射 4.2.4 离子束溅射 4.2.5 化学气相沉积(CVD) 4.2.6 其他方法 4.2.7 过程控制和层厚测定 4.3 光学镀膜的质量参数 4.4 总结与展望 参考文献 第5章 光电探测器 5.1 光电探测器的类型、探测机制和一般品质因数 5.1.1 光电探测器的类型 5.1.2 噪声源 5.1.3 探测机理 5.1.4 品质因数 5.2 半导体光电导体 5.2.1 光电导体——品质因数 5.2.2 光电导体:材料和例子 5.3 半导体光电二极管 5.3.1 半导体光电二极管的功能 5.3.2 光电二极管——品质因数 5.3.3 半导体光电二极管——材料 5.4 QWIP 5.4.1 QWIP的结构和制造 5.4.2 QWIP特性和品质因数 5.4.3 QWIP的应用 5.5 QDIP 5.6 金属-半导体(肖特基势垒)和金属-半导体-金属光电二极管 5.6.1 肖特基势垒光电二极管的特性 5.6.2 金属-半导体-金属(MSM)光电二极管 5.7 具有本征放大倍数的探测器 5.7.1 雪崩光电二极管(APD) 5.7.2 APD的主要特性和品质因数 5.7.3 APD的制造材料 5.7.4 SiPM 5.8 具有本征放大倍数的探测器:光电晶体管 5.8.1 光敏双极型晶体管 5.8.2 达林顿光电晶体管(光敏达林顿放大器) 5.8.3 基于场效应的光电晶体管 5.9 电荷转移探测器 5.9.1 MOS电容器 5.9.2 CCD作为电荷耦合图像传感器(CCIS) 5.9.3 互补金属氧化物半导体(CMOS)探测器 5.10 光电发射探测器 ...... 第6章 非相干光源 参考文献