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出版社
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ISBN9787030417176
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作者
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页数288
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出版时间2015年03月01日
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定价¥85.00
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所属分类
内容提要
《精密光学元件先进测量与评价》结合光学测量技术的*新发展，针对目前光学领域中先进光学测量技术进行了详细的探讨，主要涉及技术起源与发展、原理、优缺点、具体的测量设备，以及相关的测量方法和精度。
《精密光学元件先进测量与评价》分为6 章，第1 章归纳了光学元件质量表述和评价方式，阐述了光学干涉测量技术的基本知识与原理；第2～5 章分别介绍了子孔径拼接轮廓测量、接触式轮廓测量、结构光轮廓测量和亚表面损伤检测；第6 章介绍了其他相关的光学测量方法。 精密光学元件先进测量与评价_科学出版社_科学出版社_
《精密光学元件先进测量与评价》分为6 章，第1 章归纳了光学元件质量表述和评价方式，阐述了光学干涉测量技术的基本知识与原理；第2～5 章分别介绍了子孔径拼接轮廓测量、接触式轮廓测量、结构光轮廓测量和亚表面损伤检测；第6 章介绍了其他相关的光学测量方法。 精密光学元件先进测量与评价_科学出版社_科学出版社_
编辑推荐语
《精密光学元件先进测量与评价》可作为高等院校光学工程等专业高年级本科生和研究生的教材，也可供相关领域的科研人员和工程人员参考。
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