《普通高等教育"十二五"电子信息类规划教材:电子测量原理与应用(下册)》是古天祥、詹惠琴、习友宝、古军、何羚编著的,《普通高等教育"十二五"电子信息类规划教材:电子测量原理与应用(下册)》包含了系统的测量,主要讨论了测量系统的基本特性,系统测量用的信号源,元器件特性参数、集成电路、线性系统特性及网络分析等的测量。

前言
第3篇系统的测量
第8章测量系统的基本特性
8.1概述
8.1.1测量系统的定义
8.1.2测量系统的响应特性
8.2测量系统的静态特性
8.2.1静态特性的表征和获取
8.2.2静态特性的基本参数
8.2.3静态特性的质量指标
8.3电子测量仪器的技术规范及误差的表示方法
8.3.1技术规范
8.3.2工作特性及仪器误差
8.4测试系统的动态特性
8.4.1动态特性概述
8.4.2描述测量系统动��特性的数学模型
8.4.3测量系统的动态特性参数
8.4.4测量系统动态特性的评价指标及其测量
本章小结
思考与练习
第9章信号源
9.1概述
9.1.1信号源在系统测量中的作用
9.1.2信号源的分类
9.1.3主要技术指标
9.2传统的信号源
9.2.1低频信号源
9.2.2高频信号源
9.2.3脉冲信号源
9.2.4函数信号源
9.2.5扫频信号源
9.3锁相频率合成信号源
9.3.1合成信号源概述及直接合成原理
9.3.2锁相环的基本形式及锁相频率合成的原理
9.3.3提高频率分辨力的锁相合成技术
9.3.4扩展输出频率上限的锁相技术
9.3.5锁相合成信号源的实例分析
9.4直接数字合成(DDS)信号源
9.4.1DDS信号源的基本组成原理
9.4.2DDS的单片集成电路
9.4.3DDS的技术指标及特点
9.4.4DDS+PLL频率合成信号源
9.4.5任意波形信号源
9.4.6合成扫频信号源
本章小结
思考与练习
第10章电子元器件的测量
10.1概述
10.1.1电子元器件的分类
10.1.2电子元器件测量的特点
10.2无源元件的阻抗测量
10.2.1无源元件R、L、C的阻抗概述
10.2.2电桥法
10.2.3谐振法
10.2.4电压电流法
10.2.5自动平衡电桥
10.3分立器件参数的测试内容
10.4分立器件参数的测量方法
10.4.1电压参数的测量
10.4.2电流参数的测量
10.4.3放大倍数的测量
10.4.4阻抗参数的测量
10.5分立器件测试仪器
10.5.1晶体管特性图示仪
10.5.2分立器件综合测试仪
本章小结
思考与练习
第11章集成电路测试
11.1概述
11.1.1集成电路测试的意义
11.1.2集成电路测试的基本原理
11.1.3集成电路测试的分类
11.1.4测试的主要环节
11.1.5集成电路测试系统
11.2数字集成电路测试技术
11.2.1概述
11.2.2数字集成电路的参数测试
11.2.3功能测试
11.3模拟集成电路测试技术
11.3.1概述
11.3.2模拟集成电路的测试系统
11.3.3线性集成运算放大器的测试
11.4精密测量单元PMU
11.4.1PMU的特点
11.4.2PMU的组成原理
11.4.3PMU的技术指标
11.4.4PMU的应用实例
11.5混合集成电路测试
11.5.1对混合信号集成电路的测试要求和系统结构
11.5.2ADC、DAC测试技术简介
11.5.3DAC测试技术
本章小结
思考与练习
第12章线性系统特性测量和网络分析
12.1线性系统的频率特性测量
12.1.1线性系统的频率特性测量概述
12.1.2幅频特性测量
12.1.3相频特性测量
12.1.4矢量电压测量
12.1.5扫频仪
12.2网络分析概述
12.2.1网络分析的基本概念
12.2.2微波的S参数
12.3网络测量原理
12.3.1网络分析仪的基本原理
12.3.2矢量网络分析仪
12.3.3网络分析仪的误差来源
12.3.4网络分析仪的误差校准和修正
12.4网络测量新技术简介
12.4.1调制矢量网络分析技术
12.4.2非线性矢量网络分析技术
12.4.3多端口矢量网络分析技术
12.5线性系统的时域特性测量
12.5.1线性系统时域特性概述
12.5.2时域特性测量的实现
本章小结
思考与练习
部分习题参考答案
参考文献