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集成电路芯片测试
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集成电路芯片测试

  • 作者:王芳
  • 出版社:浙江大学出版社
  • ISBN:9787308129763
  • 出版日期:2014年03月01日
  • 页数:182
  • 定价:¥29.00
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    • 出版社
    • ISBN
      9787308129763
    • 作者
    • 页数
      182
    • 出版时间
      2014年03月01日
    • 定价
      ¥29.00
    • 所属分类
    内容提要
    《集成电路芯片测试》主要从集成电路测试从业人员所需的职业道德、C语言、自动分选机、测试机系统及应用以及常用的仪器元件、常见产品测试实例等几个方面着手,比较系统地阐述了成品测试的重要组成步骤,为微电子专业学生进行集成电路测试岗位培训提供必要的知识。
    目录
    管理篇
    第1章员工行为规范
    1.1道德规范及礼仪
    1.2员工职务行为准则
    第2章质量与环境体系要求
    2.15S管理
    2.2ISO9001:2000质量管理体系知识
    2.3ISO14001:2004环境管理体系要求
    第3章净化车间防静电管理要求
    3.1静电
    3.2如何在电子行业有效地防止静电
    3.3电路测试的防静电措施
    基础篇
    第4章C语句基础知识
    4.1C语言的数据类型、运算符和表达式
    4.2C语言程序的语句
    4.3C语言的数组
    4.4C语言的函数
    4.5SC6122测试程序简介
    第5章常用电子元器件及常用测试仪器
    5.1常用电子元器件
    5.2芯片测试常用传感器
    5.3常用测试仪器
    封装篇
    第6章集成电路生产制造流程
    6.1集成电路流片工艺流程
    6.2集成电路封装工艺流程
    6.3集成电路测试流程
    测试篇
    第7章LK8810数模集成电路测试系统介绍
    7.1LK8810数模集成电路测试系统硬件
    7.2软件说明
    7.3硬件说明
    第8章LK2150AT自动分选机系统介绍
    8.1绪论
    8.2IC自动分选机性能
    8.3人机界面操作说明
    8.4电气线路说明
    8.5日常维护保养说明
    第9章集成电路测试实例
    9.1遥控产品测试实现
    9.2风扇产品测试实现
    9.3电话机产品测试实现
    9.4显示产品测试实现
    9.5电表产品测试实现
    参考文献

    与描述相符

    100

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