本书以系统介绍了能量色散X射线荧光光谱分析的理论、测试技术和实际应用，以及近年来重要进展。在基体效应及其校正、探测器技术、样品制备等章节均具有特色，并以较多的篇幅介绍了EDXRF分析方法在地质、水泥原材料、文物分析、ROHS等领域中的应用作了专门论述。本书内客丰富、概念清晰、新颖，图文并茂。本书既可供综合性大学及理工科院校化学及化学工程专业师生教学用书，对X射线荧光光谱分析工作者和科研人员尤有学习参考价值。

前言
绪论 能量色散和波长色散x射线荧光谱的比较
0．1 概述
0．2 DXRF和EDXRF谱仪色散方法
0．3 用于WDXRF和EDXRF比较的谱仪
0．3．1 通用EDXRF谱仪
0．3．2 偏振和高能偏振EDXRF谱仪
0．4 WDXRF和EDXRF谱仪本身引起的谱线干扰
0．5 检出限
0．6 分辨率
0．7 准确度和精密度
0．8 分析时间
0．9 EDXRF和WDXRF谱仪比较小结
0．10 EDXRF和WDXRF谱仪合为一体的谱仪
参考文献
**章 x射线荧光光谱物理学基础
1．1 X射线的本质和定义
1．2 X射线与物质的相互作用
1．2．1 光电效应和特征X射线荧光辐射的产生
1．2．2 X射线在物质中的吸收”
1．2．3 X射线在物质中的散射
1．2．4 x射线在物质中的衍射
1．2．5 偏振
1．2．6 反射和折射
1．3 莫塞莱(Moseley)定律
1．4 荧光产额
1．5 谱线分数
参考文献
第二章 激发和激发源
2．1 X射线管
2．1．1 X射线管的基本结构
……
第十九章 水泥原材料分析
附录