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现代测试技术
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现代测试技术

  • 作者:陈科山 王燕
  • 出版社:北京大学出版社
  • ISBN:9787301193167
  • 出版日期:2011年08月01日
  • 页数:348
  • 定价:¥43.00
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    内容提要
    本书取材新颖,内容广泛,反映了本学科的*新进展。本书共分ll章,第1章为绪论,第2章为常规传感器,第3章为微机械传感器,第4章为测量误差分析,第5章为常见工程量的测量,第6章为信号调理,第7章为数字信号处理,第8章为现代信号分析方法,第9章为虚拟仪器,第l0章为现代测试系统,第11章为测试系统设计。
    本书在编写内容和形式上采用创新型方法,非常适合作为仪器科学与技术、电子科学与技术等专业教材,也可作为从事电子工程的技术人员的参考书。

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