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高速数字系统设计(互连理论和设计实践手册)/电子与电气工程丛书
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高速数字系统设计(互连理论和设计实践手册)/电子与电气工程丛书

  • 作者:(美)(Hall S.H.)霍尔 者 伍微
  • 出版社:机械工业出版社
  • ISBN:9787111168225
  • 出版日期:2005年01月01日
  • 页数:244
  • 定价:¥33.00
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    内容提要
    本书详细讲解现代高速数字系统设计的理论与实现方法,部析数字总线上的高频效应,介绍了多种成熟技术和应用实例,将通俗易懂的原理解释与大量实用问题解决方案相结合,为当前的数字系统设计技术提供实践指导。主要内容包括基本传播输线理论、串扰和非理想传输线、封装、过孔、连接器、非理想电流回路、同步开关噪声、数字时序分析、辐射、高速测量技术等。
    本书适合作为高等院校电子工程相关专业的本科生和研究生的参考书,也可供从事数字电路设计的技术人员参考。

    数字系统设计员必须面对当今微处理器运行速度不断增加所带来的挑战,因此,理解高速互连现象是不可或缺的。本书基于硬件平台,将从基本的传输线理论到数字时序分析,再到高速测量技术等概念,逐一为读者进行高速数字系统设计说明并将通俗易懂的原理解释与大量实用问题解决方案结合起来,为当前的数字系统设计技术提供实践指导。本书由3位Intel**工程师编写,详细解释常被忽略的有关数字总线上高频效应的主题,介绍多种成熟技术和应用实例。
    本书特点
    ●从数字角度详细介绍基本传输线理论。
    ●理论层面的理解有助于读者摆脱当前实践应用的局限,进而能够解决本书中未涉及的问题。
    ●书中理论
    目录
    第1章 互连设计的重要性
    1.1 基础
    1.2 过去和未来
    第2章 理想传输线基本原理
    2.1 PCB或MCM上的传输线结构
    2.2 波的传播
    ……
    编辑推荐语
    本书详细讲解现代高速数字系统设计的理论与实现方法,部析数字总线上的高频效应,介绍了多种成熟技术和应用实例,将通俗易懂的原理解释与大量实用问题解决方案相结合,为当前的数字系统设计技术提供实践指导。主要内容包括基本传播输线理论、串扰和非理想传输线、封装、过孔、连接器、非理想电流回路、同步开关噪声、数字时序分析、辐射、高速测量技术等。
    本书适合作为高等院校电子工程相关专业的本科生和研究生的参考书,也可供从事数字电路设计的技术人员参考。 前言
    本书基于硬件平台层次,介绍了现代高速数字系统设计所必需的实践方面和理论方面的知识。从基本的传输线理论到数字时序分析,再到高速测量技术及其他内容——这些**的概念,本书将逐一为读者进行说明。这样做,可以在理论和实践应用之间达到特定的平衡,不仅便于读者理解问题的本质,而且为解决问题提供了实践指导。理论层的理解有助于读者摆脱当前实践应用的局限,进而能够解决本书中没有涉及的问题。书中的许多内容,在过去的数字设计中并非必需,但现在这些内容却是必不可少的。而标准的大学课程中,一般不涉及本书中的绝大部分内容,而且大学课程不会专门针对数字设计领域,尽管有证据说数字设计是电气工程中*重要的产业之一。 本书**在于设计可大批量生产的稳健的高速数字产品,比如计算机系统(设计时需要特别考虑计算机总线)。不过,书中的理论对于任何高速数字系统都是适用的。书中涵盖的所有方法,都已经在工业中应用于实际数字产品,且这些产品的大批量生产和销售已经获得成功。 已经完成基础电磁课程或微波设计课程的工程师、研究生以及本科学生,由于已具有相应的知识储备,所以容易完全理解本书中的理论。另一方面,若仅在实践层应用本书中的公式,则只需有基本的电路理论背景就可以了。 第1章解释了为什么理解书中所讲授的课程是重要的(作者是Garrett Hall)。 第2章介绍了基本传输线理论和专用于数字技术的术语。该章为后续章奠定了基础(作者是 Stephen Hall)。 第3章和第4章介绍了串扰效应,解释了串扰效应与数字时序之间的关系,并研究了非理想传输线效应(作者是Stephen Hall)。 第5章解释了芯片封装、过孔、连接器和影响数字系统性能的其他方面的作用(作者是Stephen Hall)。 第6章解释了诸如同步开关噪声和非理想返回电流通路失真等难以理解的效应。如果不合理解决,这些效应可导致数字设计失效(作者是Stephen Hall)。 第7章讨论了输出缓冲器建模的不同方法。输出缓冲器用于将数字信号驱动到总线上(作者是Garrett Hall)。 第8章详细解释了系统级数字时序的若干方法。本章中描述了不同时序方案背后的理论,并将这些方案与书中的高速数字效应联系起来(作者是Stephen Hall)。 第9章提出了设计中可能遇到的*严峻的挑战之一:如何处理对系统有影响的大量变量,以及如何减少变量以方便管理。该章还解释了如何将一个难以解决的问题转化为易于解决的问题,并介绍了一种专门的设计方法学,用于生产高性能数字产品(作者是Stephen Hall)。 第10章内容的主题是辐射。辐射问题是一个让系统设计者很头疼的问题,这是因为,经常在系统原型建立完毕之后,才能发现辐射问题,此时改动代价高昂,时间也很有限(作者是Garrett Hall)。 第11章介绍了在高速数字系统中进行**测量的实用技术(作者是James McCall)。 致谢 许多同仁为本书做出了直接或间接的贡献。我们非常有幸结识了这些**的工程师和杰出的同事。其中,为本书提供了巨大帮助的有: Intel公司的Maynard Falconer博士 Mayo Foundation公司专用处理器开发小组的Mike Degerstrom Intel公司的Jason Mix博士 PHI公司的Dorothy Hall 我们也要谢谢下列朋友。他们长期通力合作,确实对本书的出版起到了重要作用,在此对他们表示感谢: 俄勒冈研究生院,Intel公司的Howard Heck Intel公司的Michael Leddige Intel公司的Tim Schreyer博士 Intel公司的Harry Skinner Intel公司的Alex Levin Intel公司的Rich Melitz Mayo Foundation公司专用处理器开发小组的Wayne Walters Mayo Foundation公司专用处理器开发小组的Pat Zabinski Mayo Foundation公司专用处理器开发小组的Barry Gilbert博士 科罗拉多州立大学Melinda PicketMay博士 还要特别感谢作者Stephen的妻子Jodi Hall,没有她的耐心和支持,本书是不可能完成的。

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