本书内容分为六部分:**部分为半导体物理的基本理论。主要内容包括:半导体、晶格、能带、载流子等基本概念;硅及砷化镓物理学特性;P—N结及其特性。第二部分为半导体器件。主要内容包括:双极型器件;MOS器件;微波与光电子器件。第三部分为半导体工艺。主要内容包括晶体生长、薄膜生长、光刻、腐蚀、扩散、注入等基本半导体工艺;双极型集成电路工艺;MOS集成电路工艺。第四部分为集成电路设计。主要内容包括:设计方法;综合与仿真。第五部分为MEMS。主要内容包括:MEMS概念与特点;MEMS工艺、器件与材料等。第六部分为科技文献范例。主要介绍微电子技术的现状与未来发展。 书中内容选材精良,但考虑到篇幅的限制及上下文的连惯性,对所选内容的图表及文字进行了部分删减和改动。为了有利于教学和阅读理解,帮助学生更好地理解原文,每章后面给出了主要专业词汇及难句注释,并在每部分后面列出了有关参考文献。