出版日期：2006年05月
ISBN：9787111187066
[十位：7111187067]
页数：284
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桂林市
《数字集成电路与嵌入式内核系统能够的测试设计》内容提要：
本书包括五章,按目录的顺序排列是:测试基础、自动测试图形生成(ATPG)、扫描、存储器测试和内核。每章概要如下: 第1章包括有关测试的术语、定义和基本信息,介绍了什么是测试和可测性设计,怎么做测试,为什么做测试,需要测试的对象是什么,怎么度量与实施测试,使用什么设备测试,工程和成本权衡的内因是什么。这是非常基础的一章,可以让初学者或初级测试与可测性设计专业人员快速了解测试的需求、作用和语言。
第2章介绍繁重的向量生成任务的自动化过程,以及如何利用自动测试图形生成(ATPG)方法减小量产时间。该章描述了AC(动态)和DC(静态)故障模型向量生成分析与技术,包括了在硬件设计中必须遵守某些规则的原因,如何降低向量集合的大小,向量集合生成的时间等内容。本章同时也讨论了ATPG过程中的度量和权衡,介绍了不同ATPG工具的评估和基准程序比较,帮助读者在应用中...... 更多
《数字集成电路与嵌入式内核系统能够的测试设计》图书目录：
译者序
前言
本书导读
第1章 测试和可测性设计的基础知识
1.1简介
1.1.1目的
1.1.2测试、测试过程和可测性设计
1.1.3并发测试工程
1.2测试动因
1.2.1为什么要测试
1.2.2 DPr争论的正反方观点
1.3测试的定义
1.3.1什么是测试
1.3.2输入激励
1.3.3输出响应
1.4测试度量准则
1.4....... 更多