出版日期：2005年08月
ISBN：9787560313870
[十位：7560313876]
页数：253
定价：￥19.80
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胡*
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《材料近代分析测试方法》内容提要：
本书介绍了近代材料学科常用的几种分析测试方法,全书力求把原理、方法、应用融为一体,简明而实用。内容包括X射线衍射技术、电子光学微观分析技术、材料表面分析技术、扫描探针显微镜技术、材料热分析技术,红外光谱与拉曼光技术及色谱及色质联机技术等。
本书可作为高等学校材料学科各专业本科生教材,研究生数学参考书,也可作为从事教材研究及分测试方面工作的技术人员参考。
《材料近代分析测试方法》图书目录：
**章 X射线物理学基础
1.1 X射线的本质
1.2 X射线谱
1.3 X射线与物质相互作用
第二章 x射线运动学衍射理论
2.1 X射线衍射方向
2.2 布拉格方程的讨论
2.3 倒易点阵
2.4 X射线衍射强度
第三章 x射线衍射方法
3.1 粉末照相法
3.2 X射线衍射仪
第四章 多晶体的物相分析
4.1 物相的定性分析
4.2 物相定量分析
第五章 宏观应力测定
5.1 X射线应力测定的基本原理
5.2 试验方法
5.3 试验精度的保证及测试原理的适用条件
第六章 电子与物质的交互作用
6.1 散射
6.2 高能电子与样品物质交互作用产生的电子信息
第七章 透射电子显微分析
7.1 透射电镜的结构及应用
7.2 电子衍射
7.3 金属薄膜的透射电子显微分析
第八章 扫描电子显微分析
8.1 扫描电镜工作原理、构造和性能
8.2 扫描电镜在材料研究中的应用
8.3 波谱仪结构及工作原理
8.4 能谱仪结构及工作原理
8.5 电子探针分析方法及微区成分分析技术
第九章 材料表面分析技术
9.1 俄歇电子能谱分析
9.2 原子探针显微分析
9.3 原子探针显微分析
……
附录
参考文献