第1章绪论
1.1 材料的组织结构与性能
1.1.1 组织结构与性能的关系
1.1.2 微观组织结构控制
1.2 显微组织结构的内容
1.3 材料分析技术与材料的关系
1.4 分析技术简介
1.4.1 X射线衍射
1.4.2 光谱分析
1.4.3 核磁共振
1.4.4 热分析技术
1.4.5 表层分析技术
1.4.6 电子显微镜
第2章 X射线衍射分析
2.1 X射线衍射基本概念
2.1.1 X射线衍射分析历史
2.1.2 X射线的产生及X射线谱
2.1.3 X射线与物质的相互作用
2.1.4 光的散射和衍射
2.2 晶体空间点阵
2.3 X射线分析法原理
2.3.1 X射线在晶体中的衍射
2.3.2 X射线衍射的实验方法简介
2.3.3 小角X射线散射法
2.3.4 样品的制备方法简介
2.4 多晶体物相分析
2.4.1 X射线衍射物相分析的基本原理
2.4.2 物相分析的定性分析
2.4.3 物相的定量分析
2.4.4 物质状态的鉴定
2.4.5 单晶和多晶取向测定

第1章绪论
1.1 材料的组织结构与性能
1.1.1 组织结构与性能的关系
1.1.2 微观组织结构控制
1.2 显微组织结构的内容
1.3 材料分析技术与材料的关系
1.4 分析技术简介
1.4.1 X射线衍射
1.4.2 光谱分析
1.4.3 核磁共振
1.4.4 热分析技术
1.4.5 表层分析技术
1.4.6 电子显微镜
第2章 X射线衍射分析
2.1 X射线衍射基本概念
2.1.1 X射线衍射分析历史
2.1.2 X射线的产生及X射线谱
2.1.3 X射线与物质的相互作用
2.1.4 光的散射和衍射
2.2 晶体空间点阵
2.3 X射线分析法原理
2.3.1 X射线在晶体中的衍射
2.3.2 X射线衍射的实验方法简介
2.3.3 小角X射线散射法
2.3.4 样品的制备方法简介
2.4 多晶体物相分析
2.4.1 X射线衍射物相分析的基本原理
2.4.2 物相分析的定性分析
2.4.3 物相的定量分析
2.4.4 物质状态的鉴定
2.4.5 单晶和多晶取向测定
2.4.6 晶粒度的测定
2.4.7 介孔结构测定
2.4.8 宏观应力测定
2.4.9 薄膜厚度和界面结构测定
2.4.10 多层膜结构测定
2.5 X射线法*新进展及应用
2.5.1 同步辐射X射线吸收精细结构方法
2.5.2 Rietveld方法
2.5.3 X射线衍射法其他应用
参考文献
第3章 红外吸收光谱
3.1 引言
3.1.1 红外吸收光谱的基本原理
3.1.2 红外吸收光谱的基本概念
3.2 双原子分子的振动和转动
3.2.1 转子模型
3.2.2 振子模型
3.2.3 双原子分子的红外振-转光谱
3.3 简正振动
3.3.1 3n-5或3n-6规则
3.3.2 简正坐标和简正振动
3.3.3 分子对称性
3.4 振动光谱的解释和应用
3.4.1 倍频、组频、差频
3.4.2 配位效应
3.4.3 Fermi共振和振动耦合
3.4.4 特征频率
3.5 各类有机化合物的红外吸收光谱
3.5.1 烷烃
3.5.2 烯烃及其他含双键的化合物
3.5.3 炔烃和其他含叁键及具有累积双键的化合物
3.5.4 芳烃和杂芳烃
3.5.5 含羟基的化合物
3.5.6 醚、环氧和过氧化合物
3.5.7 羰基化合物
3.5.8 胺
3.5.9 酰胺
3.5.10 氨基酸和铵盐
3.5.11 其他化合物
3.6 红外吸收光谱数据小结
3.7 利用红外吸收光谱推测有机化合物结构
参考文献
第4章 激光拉曼光谱法
第5章 紫外-可见光谱及荧光光谱
第6章 核磁共振谱
第7章 热分析技术
第8章 表面分析技术
第9章 扫描电子显微镜
第10章 透射电子显微镜
第11章 扫描探针显微镜