本书是2004年初版《光电测试技术》的修订版。本书初版自问世以来,受到高等院校师生和相关工程技术人员的欢迎,被多所院校的相关专业选为教材或参考书。这对编者来说是极大的鼓舞和鞭策,激励编者在教学、科研实践中不断总结经验,积累素材,以进一步补充和完善原书的内容和体系。
作为光电测试技术的源头,光辐射体的特点和性质可以决定我们应该采取的测试手段和方法,可以直接决定整体测试方案。而随着数据处理技术的发展,光辐射探测器的性能直接决定了系统的性能和适用范围。因此,本书在原版的基础上,新增了作为光电测试技术的重要组成部分--光辐射体和光辐射探测器件的基本性能和特点的介绍,作为本书的第1章。
此外,在第5章新增了应用广泛的“剪切干涉”一节。在不同的章节中,补充了部分应用实例,尤其注意补充了关于数据处理的一些新方法。
全书共分9章,绪论主要介绍光电测试技术的发展历史、概况、特点,以及关于测量的基本知识和数据处理方法;第1章介绍光电测试中的光辐射体和光辐射探测器件的基本性能和特点;第2章介绍基本光学量测试技术;第3章介绍色度学的基本原理和色度、光度测试技术;第4~6章介绍激光测试技术,包括激光准直、测速、测距及干涉、衍射测试技术;第7章介绍光纤测试技术;第8章介绍应用广泛的莫尔条纹、三角法和图像测试技术。在本书编写过程中,参阅了大量的文献资料,在此向作者们表示感谢。肖昊苏硕士、常虹博士、陈晓璇硕士、张彭舜硕士、申恒艳硕士、王艳彬硕士及其他许多同志为本书的修订付出了辛勤劳动,在此表示感谢。同时感谢责任编辑凌毅和电子工业出版社的热情帮助。
由于水平所限,修订过程中仍然可能存在疏漏和错误,欢迎广���读者批评指正。